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應用分享 | 氬離子設備 (XPS、PHI710、TOF-SIMS)

更新時間:2024-11-13點擊次數:385

氬離子設備

對於表麵分析,樣品表麵極易被汙染。

為了清潔被汙染的固體表麵,在能譜分析中,常常利用離子設備發出的離子束對樣品表麵進行濺射剝離,以清潔表麵。

利用離子設備發出的離子束定量地剝離一定厚度的表麵層,然後再分析表麵成分,這樣就可以獲得元素成分沿深度方向的分布圖。

同時,離子設備也兼具中和樣品表麵荷電的作用。

一、氬離子設備原理圖

▲ 圖1 氬離子設備原理圖

二、氬離子設備實圖

▲圖2 氬離子設備圖

三、氬離子設備主要作用

> 清潔(樣品表麵被汙染)

清潔被汙染的樣品表麵,利用離子設備發出的離子束對樣品表麵進行濺射剝離,以清潔表麵

> 濺射(對樣品進行深度剖析)

利用離子設備發出的離子束定量地剝離一定厚度的表麵層,然後再分析表麵成分,以獲得元素成分沿樣品深度方向的分布

> 荷電中和

中和樣品表麵的荷電 

四、氬離子設備多種參數設定

根據樣品需要設置多種參數選擇性

 

 ▲圖3 氬離子設備多種參數選擇

五、不同設備儀器的氬離子設備

▲圖4 氬離子設備在XPS上 

 

 ▲圖5 氬離子設備在PHI710上 

▲圖6 氬離子設備在TOF-SIMS上

六、簡易便捷的氬離子設備燈絲實體圖

▲ 圖7 XPS的氬離子設備燈絲 

▲ 圖8 PHI710的氬離子設備燈絲 

▲圖9 TOF-SIMS的氬離子設備燈絲

結語

氬離子設備已廣泛應用在各表麵分析設備上,且可以根據樣品進行參數的設定選擇,是進行表麵分析不能缺少的構件。

-轉載於《PHI表麵分析 UPN》公眾號

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